Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope SU9000
Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope SU9000
La fuente de Emisión de Campo Frío es ideal para imágenes de alta resolución con un pequeño tamaño de fuente y dispersión de energía. La innovadora tecnología de CFE Gun aporta el FE-SEM definitivo con brillo y estabilidad superior del haz, proporcionando imágenes de alta resolución y análisis elemental de alta calidad. Diseño de lente de objeto único tiene una capacidad de EELS y difracción también.
