HITACHI

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  • Microscopio de ultrasonidos de ultra alta resolución Serie SU8200

    El SU8200 FE-SEM está equipado con una nueva pistola CFE que emplea la tecnología patentada “Low Lightning” de Hitachi y un nuevo sistema de vacío, minimizando la deposición de moléculas de gas en la punta del emisor.

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  • Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución Serie Regulus

    Como nueva marca de FE-SEM, la línea de la serie Regulus se compone de cuatro modelos: el Regulus8100, Regulus8220, Regulus8230 y Regulus8240, que amplían las funciones de la serie SU8200 con el uso de una plataforma común.

    Con los sistemas ópticos optimizados, la nueva serie Regulus presenta resoluciones de hasta 0,9 nm en los modelos Regulus 8220/8230/8240 y 1,1 nm en el modelo Regulus8100, lo que supone una mejora de aproximadamente el 20% en la resolución con una tensión de aterrizaje de 1 kV en comparación con los modelos anteriores.

    La serie Regulus emplea una nueva pistola de emisión de campo frío (CFE) optimizada para imágenes de alta resolución a bajas tensiones de aceleración. Esta pistola CFE permite ampliar imágenes de alta resolución hasta 2 millones de veces, * 1 en comparación con 1 millón de veces en modelos anteriores.

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  • Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope SU9000

    La fuente de Emisión de Campo Frío es ideal para imágenes de alta resolución con un pequeño tamaño de fuente y dispersión de energía. La innovadora tecnología de CFE Gun aporta el FE-SEM definitivo con brillo y estabilidad superior del haz, proporcionando imágenes de alta resolución y análisis elemental de alta calidad. Diseño de lente de objeto único tiene una capacidad de EELS y difracción también.

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